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如何进行参数化扫描【cst软件零基础】-和记娱乐怡情博娱188

来源: | 作者:thinks | 发布时间: 2023-09-18 | 58 次浏览 | 分享到:

在用cst进行仿真设计的过程中,经常需要对某一些参数进行参数化设置,并对这些参数进行仿真对比。这一期,我们介绍下如何进行参数化扫描。

 

还是借用仿真实例001:圆极化平板天线仿真01之前已经对馈电位置、贴片的长和宽都进行了参数设置,如下图所示:


 


默认的馈电位置在x=45mm,y=0mm的地方,如下图所示:


 

 

设置参数扫描

在仿真设计中经常会碰到这样的情况,想观察一下不同的馈电位置,天线的性能(如s参数)有什么变化。这里我们就来演示下如何进行参数化扫描,首先点开par.sweep,如下图所示:


 


先点击new sequence,再点new parameter,我们对feed_x进行如下图设置,即扫描馈电位置在253545时的情况。


 


设置好的参数扫描如下图所示。点击result template,选择需要对比的内容。


 

 

设置后处理模板

cst后处理模板功能非常强大,用户可以通过模板内的各种功能进行选择操作,几乎可以得到任何关心的结果。比如我还想对比下不同馈电位置,对最大增益的影响。这里我们选择一个最大增益,来作为对比,作为示例,如下图所示:

 

 


选择好的后处理模版如下图所示:


 

点击close返回到parameter sweep界面,并点击start开始仿真。


 


仿真完成后,点击1d resultss-parameters1,1,如下图所示:

 

此时,不同馈电位置的s参数结果差别如下图所示:


 

我们也可以选择改看smith chart,如下图所示:


 

 


也可以点击result navigate,选择需要比较的曲线,如下图所示:

 

 


再点击导航树下的tablesd results,如下图所示:


 


到天线增益随不同馈电位置变化的曲线,如下图所示:


 

 

小结

cst中不仅仅能对结构尺寸参数进行扫描,只要用户能输入值的部分,大部分的项目都能进行参数化扫描。扫描对比的目标也可以通过后处理模板进行设置,后处理部分我们后面会专门写一期演示操作。

 

不同的版本可能会有点不同,在操作中如有问题可在文后或者后台留言。笔者根据大家的关注热点进行选择性的发布主题。希望和大家共同探索cst软件的仿真世界,欢迎关注转发分享。

 

(内容、图片来源:cst仿真专家之路公众号,侵删)

 

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